Comcap - Laboratório de Microscopia Eletrônica Duplo Feixe

O microscópio FEI Scios é um microscópio de varredura do tipo Crossbeam, pois apresenta duas colunas no mesmo equipamento: uma coluna de elétrons do tipo Field Emission Gun (FEG); e outra coluna de íons focalizados (FIB). A coluna do tipo FEG se utiliza de um cristal de hexaboreto de lantâneo como fonte de elétrons, fato que proporciona melhor qualidade de imagem, se comparado aos filamentos convencionais (tungstênio). O MEV opera em tensões de 0,5 até 30 kV e a resolução nominal é de 1,5 nm. O equipamento se destina a aplicações especiais, como a obtenção de imagens de alta resolução, imagens em baixa tensão e aplicações que envolvam o FIB, tais como tomografias e preparação de lamelas para microscopia de transmissão. O microscópio conta com sistema de injeção de gás (GIS-Pt/C), Nano manipulador "Easy Lift". Possui modo transmissão (STEM) para análise de lamelas, e está equipado com detectores de elétrons secundários de câmara e InColumn, detector de elétrons retroespalhados em altos ângulos, e detector de raios-X característicos (Espectroscopia de Dispersão de Energia - EDS). O uso do equipamento por pesquisadores da UEM está condicionado à submissão de proposta de trabalho (até duas páginas), para avaliação da aplicação/objetivo desejado.